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bruker納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結(jié)果通過力與壓入深度的曲線計(jì)算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積.主要應(yīng)用納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機(jī)或無機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分......
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布魯克TESPA-V2原子力顯微鏡探針，適用于布魯克多種型號的原子力顯微鏡，上海爾迪儀器科技有限公司有售。而且布魯克TESPA-V2產(chǎn)品子力顯微鏡探針有現(xiàn)貨，可聯(lián)系購買。BrukerTESPA-V2原子力顯微鏡探產(chǎn)品參數(shù)：幾何矩形齒頂圓角半徑（nm）尺寸:7最大:10頻率（赫茲）尺寸:320最小:270最大:370長度......
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優(yōu)缺點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)相對于掃描電子顯微鏡，原子力顯微鏡具有許多優(yōu)點(diǎn)。不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。同時(shí)，AFM不需要對樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對樣品會造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。第三，電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來研究生物......
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brukerSCANASYST-AIRafm探針上海爾迪儀器科技有限公司有現(xiàn)貨！欲購從速！SCANASYST-AIRafm是用于布魯克原子力顯微鏡的探針。brukerSCANASYST-AIRafm探針的產(chǎn)品規(guī)格：幾何:旋轉(zhuǎn)對稱針端高度h:2.5-8.0m前角FA:152.5背角BA:252.5側(cè)角SA:17.52.5......
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piezobrush®PZ3是一款小體積緊湊型手持等離子體發(fā)生器，適用于實(shí)驗(yàn)室開發(fā)以及小批量產(chǎn)品的研發(fā)和組裝加工。piezobrush®PZ3的最大功耗為18瓦，憑借壓電陶瓷放電技術(shù)（PiezoelectricDirectDischargeTechnology?PDD技術(shù)®）可以產(chǎn)生溫度低于50......
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