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bruker納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試，測(cè)試結(jié)果通過(guò)力與壓入深度的曲線計(jì)算得出，無(wú)需通過(guò)顯微鏡觀察壓痕面積.主要應(yīng)用納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。可適用于有機(jī)或無(wú)機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分......
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賽默飛X射線熒光光譜儀是一種分析技術(shù)，通過(guò)測(cè)量樣品對(duì)X射線的吸收和發(fā)射來(lái)鑒定元素的種類和含量。這種技術(shù)在許多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，主要包括以下幾個(gè)方面：1、環(huán)境監(jiān)測(cè)：賽默飛X射線熒光光譜儀可以用于分析土壤、水、沉積物和其他環(huán)境樣品中的重金屬和其他有毒元素。這有助于評(píng)估環(huán)境污染程度，制定相應(yīng)的治理措施，保護(hù)生態(tài)環(huán)境。2、材......
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原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contactmode)，非接觸模式（non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode）。接觸模式從概念上來(lái)理解，接觸模式是AFM最直接的成像模式。AFM在整個(gè)掃描成像過(guò)程之中，探針針尖始終與樣品表面保持......
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等離子設(shè)備在多個(gè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用，如電子、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等。為了確保等離子設(shè)備的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)其使用壽命，以下是一些建議的維護(hù)和保養(yǎng)方法：1、定期檢查電源線和插頭：確保電源線沒(méi)有磨損、斷裂或老化現(xiàn)象。檢查插頭是否松動(dòng)或損壞，如有需要，及時(shí)更換。2、清潔設(shè)備表面：使用干凈的軟布輕輕擦拭設(shè)備表面，以去除灰塵和污垢。避......
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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM），一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過(guò)檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來(lái)研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對(duì)微弱力敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得......
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