對于半導體和光電行業(yè)來說,光致發(fā)光PL是在研發(fā)過程中極 為重要的一個實驗工具。在紅外光譜范圍,傅立葉紅外光譜 儀比傳統(tǒng)色散型譜儀的靈敏度要高得多。與VERTEX 傅立葉紅 外譜儀聯(lián)用的PLII 模塊提供了業(yè)內(nèi)最靈活和強大的PL分 析方案。
· 可實現(xiàn)對塊狀樣品、量子阱和量子點樣品的PL分析,在 4000 cm-1 (< 2.5 µm)以上的光譜范圍具有超高靈敏度。
· 可添加第二個內(nèi)置激發(fā)激光,也可結合外置特殊激發(fā)激光 使用。
· 可選專用附件:掃描成像樣品臺,可攝像物鏡,恒溫器適配 器等。
在低于4000 cm-1 (>2.5µm)的光譜范圍,PL信號將受到大氣吸收以 及熱輻射背景的嚴重干擾。利用VERTEX 80v 真空型紅外光譜儀,并 結合專用的PL 真空模塊,可以消除上述兩種因素的干擾,實現(xiàn) 4000 cm-1 至1000 cm-1 甚至更低光譜范圍的中紅外PL測量。
· 真空型傅立葉紅外光譜儀可以在中紅外譜區(qū)內(nèi) 實現(xiàn)對塊狀樣品、 量子阱和量子點樣品的PL分析,消除大氣的干擾,并可擴展至近紅 外PL。
· 先進的步進掃描功能結合調(diào)制技術可消除熱輻射背景的干擾。
· 可添加自動切換的光路,用于光調(diào)制反射和光調(diào)制透射實驗。
· 可選的恒溫器適配器和激發(fā)激光,可與外置特殊激光結合使用。
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